二手 JEOL JSM 6400 #9075095 待售

JEOL JSM 6400掃描電子顯微鏡（SEM）是一種功能強大且用途廣泛的分析儀器,能夠產生有機和無機材料的高分辨率圖像。該儀器提供了廣泛的特性和功能，具有無與倫比的易用性。JSM 6400先進的電子光學器件允許用戶以小於千分之一毫米的分辨率對樣品表面進行成像。這提供了高度復雜的3D結構的詳細地形圖,可用於廣泛的應用,從研究曲面屬性到執行自動點對點測量。JEOL JSM 6400的分析能力特別適合於絕緣體、半導體、封裝材料、PCB和MEMS元件等材料的分析。該儀器能夠選擇電子能量和加速電位進行成像，使其成為各種領域的理想選擇，從故障分析和質量控制到材料科學研究。對於成像生物樣品，儀器配備了可變壓力（VP）或低真空室，允許改善非導電樣品如蛋白質和其他有機化合物的成像。此外，一組探測器可用於收集反向散射電子（BSE）、二次電子（SE）、X射線（EDAX）和陰極發光（CL），使得JSM 6400成為強大的材料表征工具。除了成像之外，儀器還能夠自動進行點對點測量，從而能夠同時進行掃描和數據采集。此特定函數可用於一系列分析應用,如樣品表面粗糙度分析、表面積/體積剖面分析、極性/電荷分布確定和晶粒尺寸/形狀分析。總體而言,JEOL JSM 6400提供了廣泛的高級特性和功能,使其成為各種研究和分析應用程序的理想選擇。憑借可靠的性能、直觀的操作和全面的分析選項,JSM 6400為研究人員提供了研究最復雜材料的寶貴工具。