二手 JEOL JSM 6400 #9079566 待售

JEOL JSM 6400
製造商
JEOL
模型
JSM 6400
ID: 9079566
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6400是一種具有尖端技術的掃描電子顯微鏡,旨在提供顯微鏡成像的最大清晰度和精度。它能有效地發現和檢查地表地形、組成,甚至提供三維信息。它在元素和封裝分析以及半導體器件的無損分析方面提供了1nm範圍內無與倫比的分辨率和景深。此外,它還能以高速度和高精度檢測各種材料。JSM 6400具有多項功能,可實現卓越的成像能力和準確性。其先進組合的一個二次電子探測器和三個輔助探測器為其提供了高精度的分析功能。其較大的腔室尺寸和增大的放大範圍提供了無與倫比的聚焦深度和分辨率。它的腔室能夠承受各種溫度,從而能夠在特定的熱力學條件下研究材料。JEOL JSM 6400適用於材料科學、生命科學、半導體制造、冶金、薄膜分析等多個應用領域。其靈活性也適用於STEM和SAM成像。由於其先進的功能,JSM 6400能夠提供關於表面地形、組成、化學鍵合以及三維分析的數據。總之,JEOL JSM 6400是一種領先的掃描電子顯微鏡,旨在提供晶體清晰的成像和材料的精確分析。其特點範圍廣,在各種溫度條件下的表現能力,使其成為適合各種行業的研究工具。它是最精確可靠的成像和數據采集顯微鏡之一。
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