二手 JEOL JSM 6400 #9171178 待售

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製造商
JEOL
模型
JSM 6400
ID: 9171178
Scanning electron microscope (SEM) OXFORD monoCL Luminescence system not included.
JEOL JSM 6400是一種高性能掃描電子顯微鏡(SEM)。它是為廣泛的科學和工業應用而設計的。該儀器獨特的設計包括具有低雜散磁場的雙柱立柱結構和強大的靜電束阻擋系統。這樣可以提高成像質量和準確性。JSM 6400配備了肖特基場發射電子源,提供高分辨率成像。儀器的高穩定性確保了收集到的數據是可重復和可重復的。JEOL JSM 6400是一個可變壓力SEM,能夠成像從1 Pa到1 Torr的樣品。這使得研究人員可以觀察樣品而無需幹燥或冷凝。該儀器具有快速的動態範圍,從微安培到高伏特,這使得簡單和復雜的標本都能夠可視化。它還擁有先進的彩色真空系統,便於電子能量的輕松調節,防止汙染擴散。JSM 6400是快速可靠的掃描電子顯微鏡,通量高。它具有16:1的優越信噪比,以及高達1024 x 1024分辨率的雙通道BSE檢測器。該儀器具有較大的二次電子檢測區域,能夠在更高放大倍率下提高圖像質量。這使研究人員對成像過程有更大的控制,並便於對標本進行分析。在數據采集方面,JEOL JSM 6400有廣泛的選項,包括SE、BSE和GSE成像。該儀器還具有自動階段掃描能力,大大簡化了圖像采集。自動階段掃描還有助於提高實驗效率和準確性。此外,JSM 6400還提供手動和計算機控制的圖像分析,這為研究人員提供了多種成像後選項。JEOL JSM 6400是一種先進、通用的掃描電子顯微鏡。它提供了一系列功能,包括彩色真空系統、快速動態範圍和自動階段掃描。這些特征,連同它的雙通道BSE探測器,使研究人員能夠準確和重現地分析標本並獲得高質量的圖像。
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