二手 JEOL JSM 6400 #9259735 待售
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ID: 9259735
優質的: 1997
Scanning Electron Microscope (SEM)
EDX Detecting unit
HASKRIS LRO50HE Chiller
Computer
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Manuals
1997 vintage.
JEOL JSM 6400是一種高級掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於高分辨率成像和分析應用。它是專為滿足現代顯微鏡的需求而設計的，具有創新的特點和高標準的性能。顯微鏡裝有3.3納米點對點分辨率，能夠用EHT-2探測器產生高分辨率圖像。顯微鏡上的氣鎖室允許引入樣品，並允許在成像過程中對樣品進行安全操作。這允許在成像過程中進行樣品處理，以及樣品從顯微鏡轉移到附著的低溫探針。JSM 6400的晶體學選項允許分析晶體結構，並提供了創建整個晶格的3D重構的能力。這使得晶相、微結構和缺陷分布的識別更加容易。JEOL JSM 6400還能夠進行先進的透射電子顯微鏡（TEM）成像。這種先進的成像技術可用於進一步分析納米級材料、納米加工和化學成分。可用於觀察單個原子或分子，這對於了解納米尺度的物理和化學性質很重要。JSM 6400是用於成像和分析應用程序的通用工具,具有一系列功能,可用於各種應用程序要求。其先進的性能和能力，加上用戶友好的操作，使其成為任何現代顯微鏡的完美選擇。
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