二手 JEOL JSM 6400 #9288943 待售
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JEOL JSM 6400是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於多種應用，包括成像、分析以及微量和納米級測試樣品的3D重建。它可以同時使用有機材料和無機材料,提供高分辨率圖像,具有卓越的清晰度、準確性和細節。JSM 6400利用電子光束掃描和成像所研究樣品的專利電子光設備。產生的圖像產生了高達9 nm的橫向分辨率的令人印象深刻的細節水平（取決於設備配置），並且適合各種研究領域，從半導體制造到生命科學。該裝置還配備了多種探測器，包括用於定性和定量元素分析的能量色散X射線（EDX）探測器、用於捕獲地形信息的二次電子探測器以及用於深度剖析的反向散射電子探測器。這些探測器為全面研究測試樣品提供了強大的組合。JEOL JSM 6400還包括數碼相機，提供先進的3D成像能力。通過使用圖像縫合功能,用戶可以創建其樣本的3D渲染,從而可以分析難以查看的詳細信息。該設備還支持多種數據格式,使用戶能夠以各種方式輕松導出其發現。最後，該裝置提供了一個獨特的自動對焦系統，可以快速準確地獲得測試樣品的最佳觀看位置。直觀的控制單元可以讓用戶快速、準確地調整曝光時間、亮度、放大倍數等參數，達到理想的效果。總之,JSM 6400是任何需要高功率SEM設備的研究人員或實驗室的絕佳選擇,該設備能夠非常精確地渲染詳細的圖像。多種多樣的探測器、精密的3D成像能力以及自動對焦機，使這款設備成為材料科學、生命科學和工程領域一系列應用的理想選擇。
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