二手 JEOL JSM 6400 #9355834 待售

JEOL JSM 6400
製造商
JEOL
模型
JSM 6400
ID: 9355834
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6400是一種精密的掃描電子顯微鏡(SEM),專為高級成像而設計,具有卓越的分辨率和微妙特征的檢測。該儀器為各種分析任務提供同等性能,包括故障分析、材料分析、電子設備檢查和生物標本成像。JSM 6400以200-400伏直流電(DC)高真空電子槍運行,在所有放大倍數下提供小於10nm的高空間分辨率,並記錄最大放大250,000X的精細細節。顯微鏡配備了數字成像處理器(DIP),以同等分辨率快速捕獲和保存圖像。手動鎖定槍傾斜特性提供了高水平的靈活性,允許快速調整電子槍和樣品起始角度,以實現最佳成像。JEOL JSM 6400有一個能量色散X射線光譜儀(EDS),可用於無損分析元素和化學成分。該工具提高了分析的準確性和靈敏度,使儀器能夠準確識別微量元素或成分。此外,SEM還配備了透鏡內二次電子(ISE)檢測器,用於檢測、分析和量化表面特征。此外,JSM 6400為掃描技術提供了全面、復雜的控制功能。這包括在自動掃描中自定義掃描參數(如光斑大小、步長大小、線路密度和加速電壓)的能力。它還提供微觀分析功能,包括自動區域映射、光譜映射、z-slice、長線和2D/3D分析。總體而言,JEOL JSM 6400提供卓越的分辨率、最大的靈活性和高級分析能力。該儀器通過提供卓越的成像結果,從故障分析到材料科學,使眾多行業受益。
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