二手 JEOL JSM 6400 #9382242 待售

JEOL JSM 6400是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM）。顯微鏡配備了結合了次級電子和反向散射電子的成像系統，以及可選的反射電子，產生了一個樣品表面的一系列分析信息。該系統對於成像表面地形、形狀、組成、汙染和其他表面特征都是有效的。JSM 6400提供高達0.02 nm的分辨率範圍。這種出色的分辨率提供了精細的地形信息，並允許對納米級物體特征，如納米粒子或原子結構進行成像。此外，JEOL JSM 6400提供了最先進的能量色散光譜儀（EDS）用於元素分析。通過將來自高分辨率圖像的信息與能量元素分析相結合，用戶不僅可以識別粒子或特征的大小，還可以識別組成。JSM 6400配備了高穩定電源和高精度級控制。這樣可以確保準確和可重復的設置以及高度可靠的掃描。高真空冷凝器、樣品室和物鏡都有助於增加光學和景深，提供更清晰的圖像，甚至改善小特征的對比度。JEOL JSM 6400還配備了能量濾波透射電子顯微鏡（EFTEM），該顯微鏡濾出因多次散射事件而降解的電子，允許更高對比度的圖像。它還具有一系列探測器,可提供不同類型的圖像和檢測功能。這些探測器包括二次電子探測器、反向散射電子探測器、反射電子探測器、能量色散光譜儀和模擬功率探測器。JSM 6400還具有多種自動化操作,如樣本對齊和聚焦、網格映射和圖像控制。它有一個大的腔室，與廣泛的樣品持有者兼容，這使得它非常適合廣泛的材料。這種通用工具使JEOL JSM 6400成為表面科學、納米技術和材料分析研究的寶貴資源。