二手 JEOL JSM 6400F #136301 待售

JEOL JSM 6400F是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM），用於多種研究和制造應用。它具有出色的分辨率,具有帶柱對焦系統（CFAS）的光束系統,並且能夠生成超高分辨率的樣本圖像。JEOL JSM 6400 F配備了二次電子（SE）、反向散射電子（BSE）和可伸縮X射線分析能力。它能夠在一定的工作壓力範圍內以環境SEM （ESEM）模式和真空模式運行。添加自動級控制器可實現自動對齊、粗糙和精細的樣品定位調整。電子源產生4.5 kV、1.5 pA光束，偏轉範圍為10.2 cm，光斑大小小於5 μ m。它采用柱聚焦對準系統（CFAS）提供高對比度成像.野外發射槍（FEG）和能量色散光譜（EDS）室提供了最佳性能.樣品室裝有舞臺插件，便於掃描小面積樣品。該裝置的圖像分辨率為0.9海裏，與核尺寸形成對比，能夠分析各種材料的特性，直至原子分辨率。也可用於產生3D樣本。JSM 6400F是一種高度可定制的儀器,可作為可選功能提供預選方案、圖像移位校正和自動聚焦示例等工具。該裝置還能夠進行堆叠成像分析和數碼相機操作。它有一個大屏幕，有一個12.1英寸的彩色觸摸面板，可以完善數據操作和顯示功能。JSM 6400 F除了出色的成像功能外,還提供全面的文檔和數據分析功能。整個圖像捕獲和分析過程是自動化的，有一個專用軟件包，使用戶能夠利用各種圖像處理和分析工具。例如,ProSpec圖像捕獲和分析軟件包使用戶能夠可視化、測量和比較示例圖像。