二手 JEOL JSM 6400F #293590368 待售

JEOL JSM 6400F是一種場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）。它是材料研究和分析的有力工具，用於觀察納米到微米尺度的特征。FE-SEM為樣品提供了極高強度的電子，使其特別適合觀察低電子吸收性材料，例如某些半導體。JEOL JSM 6400 F使用野外發射槍（FEG）實現其高分辨率成像，與傳統的SEM相比得到更高分辨率的圖像。與其他設備相比，FEG還提供了更低的加速電壓，使其成為對易碎樣品成像的理想選擇。該6400F還提供了一系列分析功能，允許用戶執行元素分析和化學狀態映射。它使用超高分辨率能量色散X射線（EDX）檢測器，它能夠檢測到分辨率最高至的元素（Be）。這使得顯微鏡JSM 6400F能夠檢測樣品中存在的雜質和其他化學態。另外，顯微鏡的電子束感應電流檢測器可用於檢測樣品中的少數載流子。這使得它對於跟蹤p-n結和其他亞微米特征，如電通路和通路很有用。該6400F還提供了其他功能，如小樣板和各種常規和低真空模式。這確保了它適用於多種應用，包括傳輸、反射和反向散射成像。JSM 6400 F是為材料科學應用而設計的多功能、功能強大的顯微鏡。它提供了市場上所有SEM的最高分辨率和一系列高級分析功能。理想的成像低吸收材料和特征檢測，6400F一定能滿足任何材料科學研究項目的要求。