二手 JEOL JSM 6400F #293595853 待售
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ID: 293595853
優質的: 2001
Scanning Electron Microscope (SEM)
Field emission gun
Resolution: 1.5 nm at 30 kV and at 8 mm WD
Magnification: 10x to 500000x
Probe current: 10 x 10-12 A to 10 x 10-10 A
Electron gun: Cold cathode field emission
Detectors: Scinitillator / Photomultiplier
GW Electronic system 47 Backscattered detector
Specimen stage: Fully eucentric goniometer stage
Tilt: -5° to 60°
Rotation: 360°
Movements:
X = 100 mm
Y = 110 mm
Z = 34 mm
Specimen exchanger:
Specimen holder airlock, 6"
Larger specimen holder drawout, 8"
EDS Detector: Prism 2000 Si(Li) 30 mm
Imix acquisition system allowing be detection
EBSD Detector: OXFORD HKL Allowing crystallographic orientation
Accelerating Voltage: 500 V to 30 kV
2001 vintage.
JEOL JSM 6400F掃描電子顯微鏡是一種用於觀察和分析各種樣品的最先進的儀器。它能夠生成生物、工業和其他材料的高分辨率圖像。該儀器配備了高速電動掃描儀、專用的高真空設備、數字圖像處理系統和交互式用戶界面。JEOL JSM 6400 F配備了場發射槍（FEG）電子源，利用加熱鎢絲發出的熱電子電子。這種電子源產生一種非常高亮度的精細聚焦探針，用於在掃描電子顯微鏡中生成顯微鏡。該槍具有5至150 kV的放大率範圍，可用於分辨率高達0.3nm的高分辨率成像。JSM 6400F還具有高速電動掃描功能,能夠以一致的分辨率快速捕獲圖像。Motorscan技術允許在試樣表面進行高度精確的自動掃描,圖像采集時間可高達0.5毫秒。為確保分辨率最高的圖像，儀器配備了一個特殊的高真空單元。這臺機器創造了一個高真空環境，用來生成樣品圖像的電子不會受到空氣分子的碰撞。為了進一步確保圖像的高質量,JSM 6400 F還配備了空間分辨率小於1 mm的熱電子發射器組件。此外，儀器還包括數字圖像處理工具。此資產包括計算機和具有交互式用戶界面的監視器。該界面允許用戶改變圖像的大小和放大倍數，以及在圖像采集過程中調整亮度和對比度。綜上所述，JEOL JSM 6400F是一臺先進的掃描電子顯微鏡，配備了野外發射槍、高速電動掃描儀、特殊的高真空模型、熱電子發射器組件以及具有交互用戶界面的數字圖像處理設備。這種精密的儀器能夠產生清晰、高分辨率的圖像,其速度使用戶能夠觀察動態事件。
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