二手 JEOL JSM 6400F #9065264 待售

JEOL JSM 6400F是一種先進的分析和成像掃描電子顯微鏡（SEM）。JEOL JSM 6400 F提供超高分辨率圖像,用於詳細檢查各種樣品。它具有超寬視野，包括一個大樣本室，非常適合生物、醫學、材料科學和半導體工業領域的研究。它配備了高性能電子柱、先進的反向散射電子探測器和靈活性，允許用戶訪問一系列專門技術，包括元素映射、3D-reconstruction和生物成像能力。JSM 6400F柱由超高分辨率（UHR）電子光學技術組成。此技術旨在最大限度地減少像差,並最大限度地實現無障礙視場。它使用戶能夠獲得比傳統SEM儀器更高分辨率的圖像。JSM 6400 F集成的低壓性能保證了精細有機樣品的穩定成像和較低的加速電壓（<5kV）。JEOL JSM 6400F還配備了反向散射電子（BSE）探測器，提供具有直接表面信息的視頻對比圖像。它顯著改善信噪比，使樣本年齡在廣泛的樣本範圍內定量。集成的低真空系統通過從超高真空（UHV）到高真空（HV）在長期運行過程中最大限度地減少汙染和降低噪聲來確保樣品穩定性。在靈活性方面，JEOL JSM 6400 F能夠獲得一系列專門的分析和成像技術，如3D-reconstruction、生物成像、光譜成像和元素映射，使其適合多種類型的材料表征應用。此外,隨附的自動化系統允許用戶快速方便地捕獲高分辨率圖像。可以通過直觀的軟件界面遠程控制JSM 6400F的掃描階段,使用戶能夠控制分析區域的大小並捕獲更廣闊的視野。綜上所述，JSM 6400 F是一種通用、功能強大的高級成像和分析技術SEM。其寬視場特性、先進的電子柱、低加速電壓選項使其適合於材料科學、半導體工業、生物醫學研究等領域的應用。此外，其靈活性和高度自動化的系統使其成為詳細材料和生物分析的節省時間和高效的工具。