二手 JEOL JSM 6400F #9080576 待售

JEOL JSM 6400F是一種掃描電子顯微鏡（SEM）,能夠在極低的加速電壓下對各種樣品類型進行難以置信的高分辨率成像和分析。它的特點使得它成為許多應用的絕佳選擇，包括材料表征、故障分析以及設備和納米結構的成像。JEOL JSM 6400 F具有獨特和符合人體工程學的設計,使用戶可以訪問三種不同的操作模式。這些模式包括：低電壓模式，可對非導電材料或半導體器件進行成像；高壓模式，非常適合查看較厚的導電樣品，如金屬材料和聚合物；焦點和分析模式，允許將特征放大至20,000倍，分辨率為0.7納米。JSM 6400F還配備了強大的附加功能選擇。這些特點包括超高分辨率光學探測器、自動化樣品裝載機、自動光束對準、內置場發射源、集成低真空系統和自動對焦系統。JSM 6400 F還為更高級的應用程序提供了幾種不同的分析功能。這些選項包括電子探針微分析（EPMA）、能量色散X射線光譜（EDXS）和掃描電子顯微鏡（SEM）。JEOL JSM的高級功能6400F使其成為許多不同應用程序的理想選擇。它易於使用和高效的設計使用戶能夠快速加載樣品,調整光束以獲得最佳效果,並在一次坐姿中獲得各種不同的圖像,使其成為當今最好的SEM之一。