二手 JEOL JSM 6400F #9089825 待售

JEOL JSM 6400F是一種高性能場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM），旨在為研究和工業應用提供突破性的成像和分析能力。與傳統的SEM相比,它高效的設計提供了一流的性能,從而實現了明顯更高的分辨率、更高的放大倍率、更低的噪音和更快的成像速度。JEOL JSM 6400 F具有野外發射槍（FEG），與標準肖特基或鎢場發射源相比，提供了優越的分辨率和圖像分辨率。FEG能夠產生一系列介於0.2至30 KeV之間的初級電子能量。這樣就可以實現更大範圍的成像能力,並提高檢測和識別樣品微妙特征的能力。該6400F還具有較大的景深和快速的掃描速度,即使將焦點從近表面特征更改為下表面特征,也能實現精確、高分辨率的成像和數據采集。JSM 6400F配備了高性能、空間均勻的電子透鏡系統，利用鏡頭內和鏡頭後冷凝器透鏡進行優化，以實現最佳像差校正和分辨率。此外,它還配備了最新的圖像預處理技術,以提供最佳的可用圖像。JSM 6400 F還具有多種分析和成像功能，包括能量色散光譜（EDS）、波長色散光譜（WDS）、電子反向散射衍射（EBSD）、陰極發光（CL）和雙束聚焦Ib。這些最先進的功能使JEOL JSM 6400F分析和成像技術的寶貴工具。JEOL JSM 6400 F還提供了廣泛的軟件功能，以支持高效有效的操作。其中包括一個自動化的標本階段控制系統、用於管理標本掃描的高級工具以及用於高效操作的直觀用戶界面。JSM 6400F是一種功能強大且用途廣泛的成像和微觀分析儀器,具有廣泛的功能和功能,可滿足當今研究和工業納米技術應用的需求。