二手 JEOL JSM 6400F #9102730 待售

JEOL JSM 6400F是一種場發射掃描電子顯微鏡（FESEM）,它結合了先進的特性和較小的尺寸,為各種材料研究應用提供高性能的成像、分析和測量工具。JEOL JSM 6400 F利用獨特的野外發射槍（FEG），產生光束光斑大小小至一納米的電子。這結合了獨特的三重槍設計和先進技術，消除了樣品充電和表面效果。單片工作流程包含用於同時成像的雙檢測器，允許高分辨率成像、化學分析和表面地形，精度無與倫比。試樣室還提供低至1x10-6 Pa的真空水平，是研究高分辨率表面和光學現象的理想選擇。JSM 6400F提供了成像、分析和測量性能方面的關鍵優勢。高達8nm的高分辨率電子光學器件和像素分辨率,能夠以無與倫比的清晰度對微小特征進行成像。掃描螺旋顯微鏡（SAM）和X射線能量色散光譜（EDS）的能力允許對標本進行原子級精度的化學分析。包括波長色散光譜（WDS）和電子反向散射衍射（EBSD）在內的先進技術可實現納米區域的3D化學和晶體學成像。此外，低真空環境還確保在成像過程中不會發生任何變化，從而允許在長期實驗中進行可靠的成像。JSM 6400 F具有用戶友好、直觀的軟件界面,可有效控制所有操作參數和系統設置。此接口還允許實時數據捕獲以及與其他分析工具的集成。自動化的樣品準備工具有助於減少在樣品準備上花費的時間，而自動化的分析工具則可以通過單擊鼠標來分析顯微鏡數據。JEOL JSM 6400F是納米技術、材料科學、半導體物理、半導體器件等領域研發的絕佳選擇。