二手 JEOL JSM 6400F #9210557 待售

JEOL JSM 6400F
製造商
JEOL
模型
JSM 6400F
ID: 9210557
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6400F是一種掃描電子顯微鏡(SEM),由於其高效的肖特基野外發射器槍,非常適合對各種樣品進行成像和分析。它的高分辨率和大的景深能力使得它能夠解析表面結構和樣品的內部特征。它有一個高分辨率的區域探測器,能夠成像高達低kV範圍的樣品。JEOL JSM 6400 F利用雙軸傾斜支架以各種角度對樣本進行成像,以生成樣本的3D-surface視圖,並從垂直方向甚至水平方向獲取視圖。JSM 6400F的一個不可思議的特點是其信號信道的傳感性能。這個特定的信號通道由一個X-Y成像系統和先進的信號電路進行備份。這些特性可以實現低壓成像和快速圖像顯示,這對於生物和有機樣品的觀測和分析都非常有用。此SEM還配備了最多x 400,000的各種放大功能。此外,該SEM具有堅固的環境系統,能夠保持3.2至5 torr的恒定顯微鏡觀察室壓力,這是防止電子束誘導樣品電荷積累所必需的。JSM 6400 F還配備了計算機控制的自動級,能夠在成像後將樣品級自動移動到各個位置,以提高速度和精度。該SEM還具有光場光學控制功能,可在獲取圖像後精確調節SEM圖像的亮度和對比度。這一特征使得極弱信號的可視化和分析成為可能,這對於可視化復雜的生物結構非常重要,否則很難成像。最後,JEOL JSM 6400F還具有各種用戶友好、直觀的數據收集和分析軟件包,便於使用。盡管JEOL JSM 6400 F的放大能力有限,但該SEM的多功能性和性能使其牢牢地躋身高端SEM之列。由於其增強的分辨率、傾斜支架和計算機控制功能,它是一個非常強大的工具,可用於對各種樣品進行成像和分析。
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