二手 JEOL JSM 6400F #9232673 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6400F
ID: 9232673
優質的: 2002
Scanning Electron Microscope (SEM) Power supply: 208 V, 60 Hz, Single phase, 5 Amps 2002 vintage.
JEOL JSM 6400F是一種最先進的掃描電子顯微鏡(SEM),旨在提供高分辨率成像以及多種分析能力。它利用二次電子、反向散射電子和反射電子,創造出具有深厚景深的生動、細致的圖像。儀器配備了各種標本架和舞臺,以容納各種樣本量和形狀。JEOL JSM 6400 F擁有內置的離子槍和電子槍,能夠產生高表面質量的樣品,從而實現精確精確的成像。顯微鏡采用了場發射冷陰極(FEG)槍,能夠產生高電子束電流,提高亮度和成像速度。此外,由JEOL專利Ceta技術提供動力的Elite FEG能夠更精確地測量束電流、增加亮度、延長壽命和更窄的電子束。JEOL Elites FEG的這種小型化使得能夠以較低的電流運行,對樣品分析進行更精確的控制。JSM 6400F具有直觀的用戶界面和易於配置的軟件設置,使用戶能夠快速自定義儀器設置。此外,這種顯微鏡還具有自動化的舞臺和可互換的鏡頭,以確保準確和可重復的結果。在分析能力方面,JSM 6400 F能夠進行多種元素映射、化學分析和能量色散光譜(EDS)。它的EDS能力是高分辨率和準確度的,能夠以1-3 keV分辨率測量到元素5。此外,該顯微鏡還具有較大的景深和聚焦離子束功能,可用於3D成像。總體而言,JEOL JSM 6400F是一種功能強大的多功能掃描電子顯微鏡,能夠產生詳細的圖像和高度精確的分析。該儀器具有廣泛的操作能力和精密的設計,非常適合各種應用。
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