二手 JEOL JSM 6400F #9236172 待售
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已售出
ID: 9236172
優質的: 1989
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Emission gun: Cold FEG
Accelerating voltage: 0.5-30.0 kV
Secondary electron detector (Everhard thornley)
Specimen size, 6" (Exchangeable via airlock)
Load lock, 6"
Specimen stage movement: Stage controller (Joystick)
Diffusion vacuum
Anti-vibration table
Vacuum value: 10^-7 -10^-8 Pa
Documentation:
Image processing
Maintenance
Parts list
Mechanical parts list
Schematic electric scheme
No image acquisition
No EDS
1989 vintage.
JEOL JSM 6400F是一種掃描電子顯微鏡,用於高分辨率成像和分析樣品。其獨特的特點和能力使其適合於多種研究應用,包括材料科學、微型制造、納米技術、醫學和法醫學。JEOL JSM 6400 F使用高分辨率的沸石塗層場發射槍(FEG),使用0.15 kV至30 kV的加速電壓。利用這一動態範圍,研究人員可以表征從非導電材料到高導電樣品的樣品。顯微鏡可以在SE或BSE成像模式下運行,微處理器控制的樣品調平設備確保精確成像。JSM 6400F還擁有獨特的數字圖像處理系統,可用於優化成像條件和增強對比度。還有一款數碼相機,配有三個RGB LED背光燈,可以讓用戶捕捉色彩範圍高達2450萬色的圖像。顯微鏡還采用了由自動對焦機驅動的階段掃描單元,允許最大30納米的超小樣本量。JSM 6400 F先進的電子光學技術可以提供比光學顯微鏡更高的分辨率。使用可選的鏡頭內探測器可以進一步提高分辨率。此外,還可以使用內置的時間解析EELS和EDX系統進行時間解析光譜分析。內置軟件允許用戶快速分析數據並生成3D重建。JEOL JSM 6400F還配備了功能強大的軟件包,包括自動化樣本導航和自動獲取等功能。這些特性使得對樣本進行成像和分析變得更加容易和快捷。顯微鏡還與廣泛的配件和設備兼容,讓用戶進一步擴展其功能。總體而言,JEOL JSM 6400 F是一種先進的高性能掃描電子顯微鏡,提供出色的分辨率和對比度,使研究人員能夠快速高效地成像和分析各種材料。
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