二手 JEOL JSM 6400F #9253741 待售

JEOL JSM 6400F是一種高精度掃描電子顯微鏡（SEM），用於成像分析多種材料的微觀結構和組成。該儀器能夠對表面特征進行成像，並使用能量色散X射線光譜法進行元素分析。JEOL JSM 6400 F提供一系列先進的成像功能,具有自動聚焦功能,放大倍數範圍從10 X到50,000X,分辨率為1.0nm。此外，6400F還有一個新設計的低振動控制系統，在高分辨率運行時非常穩定。該儀器還具有0.1到20,000 cps的信號檢測範圍，可以在0.5到30kV的兩個不同電子電壓下運行，使其適用於廣泛的材料和表面。此外，低噪聲數字前置放大器顯著降低圖像噪聲，尤其是在EDS分析過程中。反向散射的電子探測器也有50秒的快速時間響應，可以捕獲圖像而不會因為束穿透漂移而產生任何偽影。JSM 6400F配備了自動刻度和散光器單元,可最大程度地減少SEM中遇到的圖像失真。該單元還可以方便地導航圖像和分析的視場。此外,還提供了多種分析選項,包括線掃描、映射、電子束感應電流以及束反向散射和閾值模擬。最後，JSM 6400 F還有一個自動化的分析軟件，允許快速的數據分析和報告。總體而言，JEOL JSM 6400F提供了一種強大而精確的掃描電子顯微鏡，用於分析和成像各種材料。