二手 JEOL JSM 6400F #9316404 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6400F
ID: 9316404
Scanning Electron Microscope (SEM), parts system SEIKO SEIKI STP-300 Turbo pump.
JEOL JSM 6400F是為廣泛應用而設計的高性能掃描電子顯微鏡(SEM)。該儀器具有200毫米的大型舞臺,可容納6公斤以下的樣品,以及300毫米以下的大視野,提供優越的樣品操作和配準。顯微鏡還包括一個能量色散光譜儀(EDS),允許對樣品進行定量分析。EDS也有連續掃描模式,讓操作員快速準確地分析大面積。JEOL JSM 6400 F利用高分辨率鎢場發射無絲狀電子源,獲得最佳的成像分辨率和圖像穩定性。FEG源可提供高亮度,提高所有樣品的分辨率和對比度,並提供超高分辨率成像的擴展操作範圍。此外,FEG源發出真正的低角度照明,這一特性進一步提高了儀器的成像質量和容量。JSM 6400F具有與儀器舞臺兼容的各種樣品持有者,其設計目的是適應一系列樣品大小和形狀,以便準確和一致地放置樣品。該級具有堅固的機械穩定性,並具有自動樣品交換能力,可在不破壞真空的情況下進行樣品交換。這種自動交換功能還可以實現低真空模式下的通用操作,從而實現最終樣品保護。JSM 6400 F包括了廣泛的成像模式,包括低壓掃描電子顯微鏡,內嵌和底部探測器,為最佳樣品表征。除了亮場和暗場成像外,用戶還可以記錄來自同一標本場的反向散射和二次電子,用於捕獲所有三個信號分量。該儀器還配備了數字成像和自動化功能,允許用戶從任何位置訪問和分析他們的圖像。JEOL JSM 6400F具有較大的樣品交換區域和快速采集速度,非常適合快速的樣品掃描,其模塊化設計簡化了維護。該儀器還配備了直觀的用戶界面,允許用戶快速工作並解讀數據。用戶界面還包括廣泛的安全功能,旨在確保安全操作。
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