二手 JEOL JSM 6401F #9283953 待售
網址複製成功!
JEOL JSM 6401F掃描電子顯微鏡(SEM)具有高性能的5.5毫米柱,針對精細樣品分辨率進行了優化。對準系統的先進設計允許快速、精確的放大調整,使精細細節的分辨率極佳。所使用的舞臺馬達光滑精確,允許精確的標本定位。SE檢測器將檢測器適應和優化到電子槍的輸出,而反向散射電子檢測器則允許優越的對比度成像。JSM 6401F提供了多種功能,包括電子探針電流和加速電壓的自動優化、數字成像以及獲得專利的電子束遮擋系統,以提高分辨率。這樣可以對電子束進行精確微調,以最大程度地減少充電效果,提高樣品清晰度。該單元還包括一個內置的後福柯傾斜系統,在任一方向上提供4到8度傾斜,以獲取傾斜角度的圖像。JEOL JSM 6401F還提供多種成像模式,包括反向散射電子成像;差分幹涉對比度;掃描電子顯微鏡;和二次電子成像。二次電子成像模式產生樣品表面的高分辨率圖像,對於獲取有關表面地形、表面結構、表面化學和表面結構函數關系的信息特別有用。除了成像能力外,JSM 6401F還可以用來分析標本的組成。它的能量色散X射線光譜儀(EDS analysis)能夠探測廣泛濃度範圍內的元素。該單元還可用於對樣品進行電子束刺激(EBS),並可測量樣品的電、磁、光、電子性質。從結構上看,JEOL JSM 6401F是一個兼具輕巧和易於操作的多合一、緊湊的單元。柱和檢測器直接集成到單元中,物鏡設計成以最小的抖動移動,提供最高水平的性能和準確性。綜上所述,JSM 6401F掃描電子顯微鏡是一種先進的高度通用的儀器,它提供出色的分辨率、多種成像和分析功能,以及堅固的結構設計。憑借其令人印象深刻的特點和可靠性,這款SEM是研究和工業應用的絕佳選擇。
還沒有評論