二手 JEOL JSM 6401F #9283953 待售

JEOL JSM 6401F掃描電子顯微鏡（SEM）具有高性能的5.5毫米柱，針對精細樣品分辨率進行了優化。對準系統的先進設計允許快速、精確的放大調整，使精細細節的分辨率極佳。所使用的舞臺馬達光滑精確，允許精確的標本定位。SE檢測器將檢測器適應和優化到電子槍的輸出，而反向散射電子檢測器則允許優越的對比度成像。JSM 6401F提供了多種功能,包括電子探針電流和加速電壓的自動優化、數字成像以及獲得專利的電子束遮擋系統,以提高分辨率。這樣可以對電子束進行精確微調，以最大程度地減少充電效果，提高樣品清晰度。該單元還包括一個內置的後福柯傾斜系統，在任一方向上提供4到8度傾斜，以獲取傾斜角度的圖像。JEOL JSM 6401F還提供多種成像模式，包括反向散射電子成像；差分幹涉對比度；掃描電子顯微鏡；和二次電子成像。二次電子成像模式產生樣品表面的高分辨率圖像，對於獲取有關表面地形、表面結構、表面化學和表面結構函數關系的信息特別有用。除了成像能力外，JSM 6401F還可以用來分析標本的組成。它的能量色散X射線光譜儀（EDS analysis）能夠探測廣泛濃度範圍內的元素。該單元還可用於對樣品進行電子束刺激（EBS），並可測量樣品的電、磁、光、電子性質。從結構上看，JEOL JSM 6401F是一個兼具輕巧和易於操作的多合一、緊湊的單元。柱和檢測器直接集成到單元中，物鏡設計成以最小的抖動移動，提供最高水平的性能和準確性。綜上所述,JSM 6401F掃描電子顯微鏡是一種先進的高度通用的儀器,它提供出色的分辨率、多種成像和分析功能,以及堅固的結構設計。憑借其令人印象深刻的特點和可靠性，這款SEM是研究和工業應用的絕佳選擇。