二手 JEOL JSM 6401F #9288544 待售

JEOL JSM 6401F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），提供高精度圖像和功能，以幫助材料科學、生物學和半導體工程領域的用戶。這種最先進的儀器工作距離大，舞臺行進距離長，在30mm的工作距離下具有0.4nm的超常高分辨率。由於其場發射槍（FEG）電子源利用電子聚焦透鏡制造出極明亮且高度集中的電子束，它實現了這一分辨率。這種高電子束亮度提高了成像對比度、圖像分辨率，並確保了最大精度。JSM 6401F允許用戶通過各種模式對2D和3D特性進行觀察，如二次電子成像、可靠的亮場成像和自動對焦成像。此外，高角度環形暗場（HAADF）提供了比傳統明場成像更強大的晶體結構分析。通過使用HAADF成像，用戶能夠精確測量和量化精細結構。二次電子傳輸檢測器提供了多站、亮度和對比度、伽瑪、可變交叉、電子背景和圖像定位等多種選擇。這種多樣的功能選擇有助於揭示幾乎所有昆蟲、礦物或其他物體的細微細節。JEOL JSM 6401F具有廣泛的放大倍率和廣泛的工作距離，是常規和高端科學顯微鏡應用的理想選擇。有了多種電子槍設置，儀器還可以用來觀察特別難以成像的物體，如微電子元件、聚合物、金屬和氧化物，以及細胞細胞器、活細胞、組織樣本等。簡而言之，JSM 6401F是一種用途廣泛、功能強大的掃描電子顯微鏡，具有精密的成像技術，可應用於各種觀測和環境。對於任何需要精細圖片和精確測量的人來說，由於其出色的特性，如高分辨率、高對比度和廣泛的應用範圍，它是一個極好的選擇。