二手 JEOL JSM 6460LA #9362208 待售

JEOL JSM 6460LA是一種用於高分辨率成像和分析的掃描電子顯微鏡（SEM）。它能夠收集原子和納米級樣品的詳細圖像和分析數據。配備野戰發射槍、高分辨率級、影像處理設備。該系統高效可靠，可用於生物化學、材料工程等行業的各種樣品研究。JSM 6460LA利用場發射槍（FEG）源產生電子束。這個源允許儀器產生非常高分辨率的圖像，信噪比大大提高。這個FEG源將儀器的分辨率提高到1nm，同時也提高了探測器的靈敏度。該探測器設計用於收集二次電子，使儀器能夠獲得高質量的圖像。顯微鏡還具有高精度的舞臺。這個階段允許標本移動，因此可以精確成像。該級能夠承載高達10克的樣品重量和高達130毫米乘130毫米的掃描區域。它還具有廣角功能,允許從不同角度掃描樣品進行分析。除了成像能力外，JEOL JSM 6460LA還具有圖像處理單元。這臺機器旨在提高儀器所獲得圖像的質量。它能夠通過調整顏色飽和度、對比度和亮度來自動增強圖像。該工具還能夠自動測量掃描線。這包括測量,如線寬、橫截面面積和其他尺寸。總體而言，JSM 6460LA是一種極其強大的掃描電子顯微鏡，設計用於詳細的成像和分析。它能夠產生原子和納米級樣品的高度詳細的圖像和分析數據。它是一種高效可靠的資產，適合用於各種行業，以便探索樣品的原子和納米結構。