二手 JEOL JSM 6460LV #293762948 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6460LV
ID: 293762948
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6460LV是一種具有電子束技術的先進掃描電子顯微鏡.這是一個通用的顯微鏡,使研究人員能夠進行各種實驗,包括成像、晶體學和原子探針分析。該儀器采用肖特基場發射電子源(FEIS),能夠產生2.0 nA的最大束電流和高達150 kV的加速電壓。JEOL JSM-6460LV的電子光學器採用有電子光柱的多鏡頭系統,能夠對電子進行成像、偵測和分析。獨特的電子光學包括鏡頭內檢測器系統,由二次電子檢測器、反向散射電子檢測器、潤濕晶體檢測器、場發射檢測器和X射線檢測器組成。通過使用各種探測器,研究者能夠獲得一系列不同的圖像、信號和光譜。JSM 6460LV還具有各種樣品階段,在顯微鏡下提供了良好的樣品穩定性。通過使用倒置樣品支架,JSM-6460LV能夠進行任何需要冷卻或加熱的低溫實驗。JEOL JSM 6460LV配備了多種功能和儀器控制軟件,使研究人員能夠準確控制廣泛的實驗參數並獲得高質量的圖像。該軟件融合了電子束電流控制、成像處理、圖像分析和光譜處理功能。JEOL JSM-6460LV還提供了一系列創新的樣品制備能力,其中包括氙離子濺射、氙簇濺射沈積和碳濺射沈積。氙離子濺射使研究者能夠在樣品表面形成一層薄薄的金屬或氧化物,而氙簇濺射沈積和碳濺射沈積能力則允許對樣品表面進行有效的靜電塗層。總體而言,JSM 6460LV是一種多功能的掃描電子顯微鏡,配備了尖端電子光學和儀器控制軟件,以及增強穩定性的樣品級、氙離子濺射和各種塗層能力等附加功能。這使得它成為研究人員尋找圖像,檢測和分析各種樣本的理想選擇。
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