二手 JEOL JSM 6460LV #293764869 待售

JEOL JSM 6460LV是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），專為廣泛的應用而設計。這種先進的儀器提供各種特性和功能,包括高分辨率成像、深度剖析、X射線映射和化學狀態成像。JEOL JSM-6460LV采用了一種冷場發射槍（CEG）電子源，在高真空和長工作距離下可實現優異的圖像分辨率。CEG源的壽命為10,000小時,在30 kV時分辨率為3 nm,在1 kV時分辨率為1.2 nm。此外,在工作距離為10 mm時,它的最大放大倍數可達500 kx。該儀器提供多種成像模式，包括亮場、暗場、差分幹涉對比度（DIC）、偏振分析和全色成像。它還提供了電子反向散射衍射（EBSD），允許以納米尺度分辨率測定材料的質地和取向。另外，EBSD可以與X射線映射相結合，分析納米尺度的樣品組成。JSM 6460LV具有一個「慢跑穿梭」階段，允許極其精確和精確的樣品定位與可重復的精度。這對於深度剖析等應用特別有用，允許對樣品深處的二維和三維結構進行精確的調查。先進的分析儀系統可以量身定制，以滿足用戶的特定需求；它同時使用多達五個探測器，包括電子能量損失系統、X射線探測器、陰極發光探測器、反向散射探測器和分析探測器。另外還可以為特定應用添加兩個檢測器，如角度解析X射線分析或硬X射線或BSE成像。最後，JSM-6460LV還配備了全面的軟件，為所有測量和分析提供了一個用戶友好的界面。該軟件提供對成像參數的完全控制,並具有一系列圖像分析和數據建模工具。這使用戶能夠輕松分析、操作和解釋數據,從而提高準確性和精度。