二手 JEOL JSM 6460LV #9236116 待售

JEOL JSM 6460LV掃描電子顯微鏡（SEM），是一種用於納米級樣品觀測的強大成像儀器。該模型能夠使用反向散射電子探測器生成高達50,000倍的高分辨率圖像，為用戶提供對樣品形態或結構的有影響力的詳細表示。JEOL JSM-6460LV配備了場發射槍，產生高質量電子束進行高放大成像。這是通過大大降低2kV的加速電壓來實現的，這樣可以觀察到比常規SEMs的樣品損壞更小的樣品。此外，調查人員有能力根據他們所分析的樣本類型和期望的結果來定制他們的設置。JEOL 6460LV有一個內置的圖像處理軟件套件（Image Processing Suite），其中包括幾個用於編輯示例圖像的功能。這包括用於調整對比度水平、校正球面像差、銳化圖像、消除噪聲、調整亮度等的濾波器。顯微鏡還有一個原位檢測設備（IDD），有助於識別病毒感染的細胞。JEOL 6460LV裝有Advanced Low Vacuum （ALV）腔室，是一種高壓腔室，可操作至15至500 mtor之間的壓力。這使用戶能夠在低真空模式下觀察樣品，樣品損壞最小，可用性高。此外，ALV室還配備了自動氣體凈化系統，這也有助於樣品的制備。JEOL 6460LV的其他特點包括一個壓電掃描儀單元，它允許精確的樣品對準，以及一個電子束對樣品對準機器，用於調整取樣臺上的電子束。此外，JEOL模型還通過若幹電子接口得到加強，這些電子接口促進多用戶操作，並促進儀器與其他實驗室計算機之間的數據共享。最後，JSM 6460LV是一個現代化的掃描電子顯微鏡能夠提供高分辨率和驚人的圖像樣品如納米線和納米管。該模型具有各種先進的成像功能，以及用於精細樣品精確成像的低真空環境。最後,此工具還具有一些用於精確圖像處理的功能,以及用於提高工作效率的實驗室自動化功能。