二手 JEOL JSM 6460LV #9244467 待售
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ID: 9244467
優質的: 2002
Variable Pressure Scanning Electron Microscope (VP-SEM)
Tungsten electron emission tip: 30 kV
Vacuum / Gas pressure: 10-270 Pa
Large specimen chamber
With 5-Axes motorized
Magnification: 5x - 3,00,000x
(3) Segment solid state back scattered electron detectors:
Composition mode imaging
Topography mode imaging
Shadow mode imaging
Tungsten filament
SEI, BEI in HV electron detectors
BEI in LV electron detectors
(2) Oil pumps included
Operating system: Windows 2000
2002 vintage.
JEOL JSM 6460LV掃描電子顯微鏡(SEM)是現有最先進的SEM之一。它是一種用於成像表面和控制電子束相互作用的高性能儀器。此設備非常適合需要高分辨率和卓越圖像質量的應用。JEOL JSM-6460LV具有低真空、低振動設計,可實現最佳成像性能。配備鎢絲和LaB6熱場發射槍,最大分辨率和柔韌性。該系統還具有獨特的用於低能成像的高分辨率濾波器,使其能夠捕獲細微的細節,如非常小的粒子和缺陷。JSM 6460LV具有用於SEM成像的高靈敏度、低噪聲Everhart-Thornley探測器。它提供了卓越的動態範圍和快速的響應時間,允許表面結構的無損成像。該探測器還具有最高檢測靈敏度的高量子效率。6460LV裝置采用自動對焦機設計,成像時精度最高。該工具還包括一個輔助電子探測器,用於獲取有關表面結構的低深度信息。自動定心和標記功能使正確對齊樣本變得更加容易。該SEM具有高速、大面積的階段,用於快速掃描大樣品。它能夠掃描高達30nm的樣品。該資產還具有高達每秒5,000幀的掃描速度,以便快速獲取圖像。JSM-6460LV掃描電子顯微鏡提供了最高水平的成像性能在SEM可用。它的低真空、低振動設計、Everhart-Thornley探測器,以及強大的功能使得這款車型非常適合進行詳細的表面成像。憑借其高分辨率功能和自動化功能,用戶可以獲得最高精度的高質量成像。
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