二手 JEOL JSM 6480LV #293597485 待售

JEOL JSM 6480LV是一種掃描電子顯微鏡，能夠分析各種材料。它允許使用者觀察被檢驗標本的詳細形態和元素信息。JSM 6480LV配備了用於二次電子成像的Everhart-Thornley SE探測器和用於BSE成像的一觸式SEED。它既能進行常規的SE和BE成像，又能產生二次電子反向散射圖像。此外，JEOL JSM 6480LV還可以產生反向散射電子光譜並進行元素映射的線掃描。JSM 6480LV的樣品室能夠達到直徑150 mm （5.9英寸）和高度250 mm （10.0英寸）的最大樣品尺寸,樣品支撐級的可調X-Y範圍為50 mm （1.97英寸）。該級由高度耐用的合金構成，使其耐腐蝕和耐刮擦。除了標準的SEM成像模式外，JEOL JSM 6480LV借助其高分辨率變壓SEM（VP-SEM）特性，能夠產生高分辨率圖像。此功能的工作原理是降低樣品室中的壓力,幫助改善結果圖像中細節的對比度和清晰度。JSM 6480LV裝有用於二次電子成像的Everhart-Thornley SE探測器和用於BSE成像的單掃描控制器。可以產生反向散射電子光譜並進行元素映射的線掃描。通過采用5軸光圈,JEOL JSM 6480LV還提供了高級成像功能和高速成像功能,可進行多達8倍的多幀掃描。JSM 6480LV還包括一個信號處理器,它允許用戶調整檢測器信號以抵消充電效果並優化信號動態範圍和畫面清晰度。此SEM模型還具有自動對焦功能和數字變焦功能,可快速改變焦點。JEOL JSM 6480LV是一種高度通用的SEM系統,旨在使用戶能夠精確、精確地探索樣品的細節。憑借其高分辨率成像、多種成像技術和附加功能，它有潛力提供對材料結構的寶貴見解，支持新材料的開發。