二手 JEOL JSM 6480LV #9249037 待售

JEOL JSM 6480LV掃描電子顯微鏡（SEM）是一種實驗室儀器，用於在微觀層面分析材料樣品。它利用高能電子束與樣品相互作用，產生基於電子束與樣品相互作用的數據形式。JSM 6480LV具有允許高分辨率成像的Everhard-Thornley SE（二次電子）檢測器和提供高效BSE成像的現代反向散射電子（BSE）檢測器。它以低加速度電壓運行，使得SEM適合研究非導電樣品。大腔室可以方便地定位和操縱各種樣品，而無需真空腔室。JEOL JSM 6480LV SEM對12 x 0.9 mm大小的樣品有很大的視野,放大倍數可達500,000 x。該儀器的高分辨率使得能夠對材料樣品中復雜的結構和特征進行2D成像和化學分析，使其成為納米技術研發的有效工具。為了確保可靠的重復結果，JSM 6480LV具有可變斑點成像、掃描透射電子顯微鏡等幾個先進功能，以研究樣品的局部變化 （STEM）用於量化光元素的分析、用於元素分析的內置X射線微探針和EDX檢測器,以及能夠自動對準樣本和用戶控制收集到的數據的全面軟件包。JEOL JSM 6480LV是納米材料、藥物設計、MEMS生產、法醫調查等多個領域研究的理想工具。它的創新特性和卓越的成像質量使其成為科學家和工程師的寶貴工具,他們需要在微觀層面上可視化和分析各種材料樣品。