二手 JEOL JSM 6480LV #9285443 待售

JEOL JSM 6480LV掃描電子顯微鏡（SEM）是一種先進的分析儀器，用於繪制和分析介電和金屬表面。JSM 6480LV提供了高分辨率的二次電子成像功能,可提供卓越的圖像質量以及卓越的景深和改進的信噪比。JEOL JSM 6480LV具有標本和探測器之間較大的工作距離和較大的視野,提供了更高的詳細程度。AE探測器配置的標準圖像分辨率高達Everhart-Thornley,橫向分辨率高達3.5nm,每張圖像分辨率為5.2nm,提供了一種可更好地顯示小型結構、表面特征和樣品幹涉圖樣的成像模式。該系統還包括一種專用的低真空成像技術，允許在沒有樣品制備的情況下進行樣品成像。這樣就可以捕獲微米級物理特征,而無需在分析之前和分析過程中進行樣品制備處理。JSM 6480LV旨在提供包括反向散射電子成像、化學映射、能量色散X射線光譜（EDS）、X射線熒光（XRF）和掃描螺旋微分析（SAM）在內的一系列分析技術。這些技術提供了高精度的微觀結構分析、化學成分鑒定和元素映射。JEOL JSM 6480LV包括一個自動采樣器,該采樣器允許將樣品劃痕並放置在室內進行自動分析,而無需手動放置樣品。高能分辨率離子束源確保了高度詳細的化學成像和分析。JSM 6480LV配備了一個自動化的標本級,可以連續掃描和成像大型樣品,而無需手動調整或重新定位樣品。該系統有一個計算機控制的超高真空（UHV）腔室，用於樣品安裝，確保分析前後表面的完整性。JEOL JSM 6480LV是研究材料物理和化學性質的寶貴工具，用於微加工工藝優化、光伏/太陽能電池、納米材料/納米電子學和故障分析等一系列應用。高分辨率功能可實現復雜表面特征的精確成像和分析。該系統可靠、可靠,方便靈活,是高級樣品分析的通用解決方案。