二手 JEOL JSM 6490LA #9285392 待售
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ID: 9285392
Scanning Electron Microscope (SEM)
Tungsten filament
Specimen exchange chamber / Airlock
Secondary electron detector and backscatter detector
Chamber camera
Does not include EDS or anti-vibration pads
Operating system: Windows 7.
JEOL JSM 6490LA是一種掃描電子顯微鏡(SEM),廣泛應用於材料科學、工業檢驗、故障分析等多個領域。它利用高度先進的技術提供令人難以置信的圖像分辨率。JSM 6490LA配備了獨特的高性能掃描發生器,經過專門開發,可以產生更明亮、對比度更高的圖像。它旨在支持傾斜和旋轉測量,允許用戶以優化的性能捕獲高精度樣本的三維圖像。SEM具有提供1.5 nm分辨率的低真空性能系統和能夠檢測能量從1eV到40 keV的電子的檢測系統。此功能強大的系統使用戶能夠生成分辨率高達5nm的圖像。顯微鏡還采用兩種不同的樣品界面來容納各種樣品類型和大小。第一種是自動化的樣品更換器,可以同時處理多達20個不同的樣品。二是手動樣品架,使用戶可以快速有效地將樣品定位在室內。JEOL JSM 6490LA還設計有可更換的微碳真空源,允許極端水平的真空。這大大降低了SEM產生的圖像中的背景噪聲。此功能有許多應用,例如延長SEM的使用壽命和允許收集地形圖像。JSM 6490LA是一種非常強大的分析和探索工具,是各種實驗室應用的理想選擇。它的先進技術和令人難以置信的高成像分辨率為實驗和檢查提供了無與倫比的圖像和數據。對於那些在工作中需要最高水平成像精度的人來說,這是一個極好的選擇。
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