二手 JEOL JSM 6500F #293604703 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6500F
ID: 293604703
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6500F是一種高分辨率掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於最先進的成像和分析。它具有高分辨率成像和分析能力,可用於各種材料表征應用,從材料研究和故障分析到半導體器件分析、過程控制和樣品制備。JEOL JSM-6500 F允許觀測低至納米分辨率的物體,並帶有一個自動化的樣品更換器以完成樣品處理。顯微鏡設計易於使用,具有自動化功能,操縱桿控制級,高速掃描。配備高性能光學器件,提供高精度成像和動態降噪功能。檢測器經過優化,以匹配全部功能,讓用戶獲得出色的對比度和分辨率。JSM 6500F還具有一整套分析能力,包括用於元素分析的能量色散光譜(EDS)和波長色散光譜(WDS)。這兩種技術都能實現快速可靠的元素映射,並具有很高的精度。JSM-6500 F還可用於階段X射線成像和自動晶粒測量,仔細選擇光束能量和檢測智能,以確保最大精度和重復性。JEOL JSM 6500F提供高級控制功能,如顯微鏡和探測器功能的自動控制,以及自動信號輔助功能,以進一步改進分析結果。顯微鏡還具有先進的數據采集和分析能力,使用戶能夠完全控制掃描區域、參數、信號和數據收集。通過結合高分辨率、自動化特性和廣泛的分析能力,JEOL JSM-6500 F是滿足各種研究和實驗室需求的完美工具。
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