二手 JEOL JSM 6500F #293625725 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6500F
ID: 293625725
Scanning Electron Microscope (SEM) Deben beam blanker Raith lithography piloting PC.
JEOL JSM 6500F是一種用於學術和工業成像應用的大功率掃描電子顯微鏡(SEM)。它是世界一流的儀器,分辨率為1納米,具有高速掃描能力。JEOL JSM-6500 F由電子光柱結構提供動力,該結構包括提供高分辨率SEM圖像的EC-CS型電子槍和獲得JEOL專利的像差校正器,可提高圖像質量,同時減少對成像樣品的輻射損傷。JSM 6500F還配備了支持能量色散X射線光譜(XEDS)探測器和JEOL專有真空設備。XEDS探測器提供各種元素和能量,從而能夠分析樣品元素,如碳和氮。結合真空系統,JSM-6500 F在整個掃描和分析過程中安全保持高度真空。JEOL JSM 6500F有很大的視野,從8 x 10毫米到40 x 40毫米,可以成像大小樣本。結合電子光學和掃描單元使JEOL JSM-6500 F能夠以高達1納米的高分辨率捕獲大型圖像。這種組合機器可以用來測量和分析幾乎任何材料的結構。此外,JSM 6500F還配備了數字圖像處理套件,可提高圖像清晰度、訪問噪聲濾波器以及專用成像的亮度和對比度。對於執行專用應用程序的用戶,JSM-6500 F可以配備各種輔助組件。這包括一個能量過濾工具來調節電子束中包含的能量,一個可以整合多種成像模式的多模式自動圖像采集資產(AIA),STEM和SEM檢測器,以及一個自動化的采樣級,以方便準確的取樣放置。總體而言,JEOL JSM 6500F是一款功能強大、可靠且用途廣泛的SEM,提供高分辨率、卓越的圖像質量和廣泛的功能。它擁有廣泛的成像選項,為高級研究、工業和教育應用提供了一個絕佳的平臺。
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