二手 JEOL JSM 6500F #293814504 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6500F
ID: 293814504
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Nanostage module Used for nanodevice fabrication.
JEOL JSM 6500F是一種具有場發射槍(FEG)電子源的高性能掃描電子顯微鏡(SEM)。這臺儀器具有獨特的0.5至40 kV的加速電壓範圍,允許用戶在該範圍內的任何電壓下操作設備,使其具有更強的靈活性以適應應用。該系統提供卓越的高分辨率性能和高對比度成像。透鏡內二次電子(SE)檢測器允許對SE檢測器進行直接的超中心位置調整,以獲得最佳的光束定位和圖像采集。先進的短期漂移校正裝置可確保最小漂移,並實現自動掃描和導航。JEOL JSM-6500 F利用獨特的多服務器結構,允許從分布式源和探測器進行遠程操作和自動數據采集。本機還包括高效信號合成工具,對一次電子信號和二次電子信號進行放大和集成,用於高信噪比圖像。它還為用戶提供了一種高級「斷層成像」成像方法,該方法使用兩個或多個SE探測器進行3D圖像重建。JSM 6500F集成了用於最佳表面成像的集成低角度SE檢測器和用於高級金屬或陰影成像的多段SE檢測器。先進的能量色散X射線光譜(EDXS)資產提供了樣品中化學元素的同時測量。控制軟件具有高度的用戶友好性和可定制性,便於設置實驗和簡單獲取數據。JSM-6500 F是一種高端掃描電子顯微鏡,提供卓越的成像性能和對比度。該模型非常可靠,非常適合各種研究、工業和材料科學應用。它配備了眾多創新功能,允許自動高效運行。卓越的成像能力和靈活的特性使JEOL JSM 6500F一種功能強大且不可或缺的儀器,適用於參與SEM成像的任何人。
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