二手 JEOL JSM 6500F #293815794 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6500F
ID: 293815794
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 6500F是為廣泛應用而設計的高性能掃描電子顯微鏡(SEM)。這種先進的顯微鏡工具為各種成像和分析任務帶來了無與倫比的性能和靈活性。JEOL JSM-6500 F具有獨特的可變壓力模式和一種新的、最先進的寬視野檢測器,能夠以極好的清晰度捕捉更大的樣本區域。有了可選的自動槍對準系統,成像和分析任務變得更快、更準確。火炮對準系統快速準確地設定物鏡對焦、火炮電流、標本傾斜。JSM 6500F SEM還集成了高級成像軟件以改善工作流程。SEM功能強大的自動化機動化舞臺移動,可使用全景和預編程移動實現快速、準確的成像。它的數字成像系統使用戶能夠捕獲更清晰的樣本圖像。JSM-6500 F是一種功能強大的SEM,源到樣本的距離極小。這個接近零的源到樣本的距離給儀器一個超高分辨率,使捕獲甚至最精細的細節。該儀器提供高分辨率成像功能,並提供自動參數以實現圖像清晰度。JEOL JSM 6500F支持一系列用於樣品制備和分析的技術。例如,它允許使用專門的持有者來測量大型樣品或曲面彎曲的樣品。它還支持使用光束敏感和導電材料、可變聚焦和對比度,以及將高分辨率成像與各類能量色散光譜(EDS)相結合。所有這些特性使JEOL JSM-6500 F成為一種功能強大、用途廣泛的掃描電子顯微鏡。這種儀器使專業用戶能夠分析各種領域的樣本,包括材料科學、半導體和納米科學、取證、冶金等等。JSM 6500F掃描電子顯微鏡是任何需要可靠和精確SEM工具的實驗室的理想工具。
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