二手 JEOL JSM 6500F #9180119 待售

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製造商
JEOL
模型
JSM 6500F
ID: 9180119
Scanning electron microscope (SEM).
JEOL JSM 6500F是一種掃描電子顯微鏡(SEM),用於在納米級觀測一系列樣品。它提供卓越的分辨率成像,元素和化學分析樣品,以及一系列的特點,既高和低放大成像。JEOL JSM-6500 F在可變壓力(VP)和高真空(HV)兩種模式下運行,使其成為用於低分辨率和高分辨率成像的通用儀器。其VP特性允許在低真空下監測試樣表面,並消除了對冷凍泵送系統的需求,從而改善了試樣的制備。它還配備了減少非科學信號的環境噪聲濾波器,為用戶提供了更清晰的樣本地形概述。在成像模式下,JSM 6500F可以放大到200,000倍,提供樣品結構的精確細節。它還有助於檢測低放大倍率的表面特征,使用戶能夠識別任何異常。除了成像能力外,顯微鏡還配備了特定的探測器,可以使用二次電子、反向散射電子和X射線對樣品進行化學或元素分析。JSM-6500 F還具有一系列信號穩定特性,如低噪聲電路可實現最優分辨率和信噪比,以及用於采樣表面測量的多通道放大器。此外,該範圍采用自動圖像優化技術,使其能夠針對不同樣本精確優化圖像對比度。這款SEM還配備了氣體噴射器模塊,為樣品提供惰性氣體(如氙氣或氮氣)的溫和流動,以獲得更好的分辨率。它的鏡頭內二次電子檢測器也允許改進成像結果和高側向分辨率。為方便操作,JEOL JSM 6500F通過計算機控制的GUI操作。其觸摸屏界面可用於調整電子束電流、加速電壓、聚焦等設置參數。它還包括一系列圖像調整工具,如亮度、對比度、清晰度和飽和度,允許用戶根據自己的需要定制圖像。這種掃描電子顯微鏡是一種通用可靠的儀器,用於觀察和分析熒光材料、聚合物和生物樣品。JEOL JSM-6500 F憑借其卓越的分辨率、先進的成像技術和便捷的觸摸屏界面,是各種實驗室應用的理想儀器。
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