二手 JEOL JSM 6510 #293601626 待售

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製造商
JEOL
模型
JSM 6510
ID: 293601626
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6510是一種用於高分辨率成像和分析的掃描電子顯微鏡(SEM)。JSM 6510利用高性能電子柱進行高質量的成像和更高的加速電壓(高達100kV)。這種具有小光斑尺寸、寬工作距離範圍、低電子束發散的大功率、冷場發射槍(FEG),可以進行精確的成像和測量。JEOL JSM 6510還具有三維透鏡內二次電子檢測器,它最大程度地降低了雜散電子發射產生信號噪聲的風險。此外,6510還有一個可選的鏡頭內反向散射電子檢測器,它允許創建雙檢測器圖像以分析地形和化學成分。6510還擁有一系列用戶友好的功能,可幫助實現最高效的工作流程。例如,大型樣品的電動機驅動級可以為成像和自動樣品分析提供快速、準確的階段定位。與JSM 6510兼容的掃描透射電子顯微鏡(STEM)功能允許高分辨率Z對比度成像和元素映射。此外,高對比度的亮場成像模式有助於對晶體平面和樣品的微結構進行高雙精度的觀測。總體而言,JEOL JSM 6510為高級成像和分析提供了一個簡單而精確的分析平臺。這包括高分辨率成像和工程分析、化學分析和材料表征。此外,6510的「加侖」掃描功能允許具有計算機輔助圖像處理功能的「色差校正」,使其成為詳細觀察以及定量納米分析的理想選擇。
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