二手 JEOL JSM 6510 #293656752 待售

JEOL JSM 6510
製造商
JEOL
模型
JSM 6510
ID: 293656752
晶圓大小: 8"
Scanning Electron Microscope (SEM), 8".
JEOL JSM 6510是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於提供超高分辨率成像和分析廣泛的樣品。該設備具有從低壓成像到整體元素分析的廣泛功能。JSM 6510采用單一的大面積場發射電子源,能夠產生0.2納米(nm)以下的光束。這個小光束直徑允許超高放大成像和分析,能夠解析小至0.4 nm的特征。高真空室可以防止空氣分子的幹擾,提供清晰清晰的圖像,而且失真最小。JEOL JSM 6510具有廣泛的檢測器,用於測量二次或反向散射電子(BSE)、二次電子(SE)、反射電荷和透射電子(TE)。BSE檢測器靈敏度高,有效地產生高質量的成像,而SE檢測器對表面特征和精細結構更敏感。反射電荷和TE探測器可用於無損元素映射。JSM 6510配備了一套全面的軟硬件來控制光束,管理圖像數據,並進行復雜的修改,以盡可能高的分辨率獲取圖像。軟件的自動化圖像生成和分析功能,加上靈活的硬件控制,使系統易於學習和操作。JSM還包括一個自動更換標本器,它可以快速方便地檢查多個標本。這有助於最大限度地提高工作流和吞吐量。此外,該裝置可以在各種環境中操作,從低真空成像到高壓成像。控制機本質上是安全的,有故障安全的設計,以確保研究人員的最大安全。總體而言,JEOL JSM 6510是一款功能強大且用途廣泛的SEM,旨在為各種環境和樣本類型提供高分辨率的成像和分析。其全面的軟件和硬件管理工具套件使其易於使用和高效,非常適合任何研究實驗室。
還沒有評論