二手 JEOL JSM 6510 #293758764 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6510
ID: 293758764
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6510掃描電子顯微鏡(SEM)是一種高度先進的成像和分析工具,用於獲得納米級或原子級樣品的高分辨率分析。它具有多種高級成像功能,使用戶能夠輕松地準確描述各種樣本。JSM 6510裝有GIS場發射電子槍,提供額外的低壓成像,以獲得最高的細節水平,而不會損壞高能量電子的樣品。顯微鏡采用改進的低壓Cs野外發射槍(FEG),3.4kV 20kV,分辨率為0.2nm。它還具有一個3軸電動級和兩個不同的電動對焦旋鈕,允許用戶以精確和微調的方式專註於樣品。JEOL JSM 6510還提供了由1400萬像素電荷耦合器件(CCD)攝像頭組成的圖像捕獲系統。這款相機可產生多達1400萬像素的圖像,包括3倍光學變焦、6.3倍數碼變焦和8倍彩色滑塊模式。這使用戶能夠生成詳細、準確的圖像以進行進一步分析。JSM 6510采用了幾種分析技術來詳細檢查樣品。其中包括用於元素分析的能量色散光譜(EDS)、用於衍射和重結晶研究的電子反向散射衍射(EBSD)以及用於成像和分析樣品發光的陰極發光(CL)。顯微鏡還提供了二次電子成像(SEI)、二次電子光譜、反向散射電子成像(BEI)等多項附加顯微鏡功能。JEOL JSM 6510是一種高度通用的成像和分析工具,旨在提供各種研究應用中的精確和詳細的標本圖像。它的高級特征和分析能力提供了詳細的結果,幫助研究人員進一步了解他們的樣本材料。
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