二手 JEOL JSM 6510 #9401508 待售

JEOL JSM 6510是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於以非常高的分辨率研究材料的組成和結構。這種顯微鏡用於以極高的放大倍率產生樣品表面的圖像。儀器利用了一個聚焦在一個很小的點上的電子束，以及一個測量樣品散射的電子量的檢測器。JSM 6510能夠產生分辨率高達0.8納米的樣品圖像，即8 Ångströms，這比市場上任何其他市售的SEM都要高。該儀器還具有高穩定性和低噪聲能力。它具有低雜散電場和磁場，有助於確保只收集來自樣品的信號進行分析。JEOL JSM 6510是故障分析、過程和產品開發、質量控制、研發等應用的理想儀器。它具有高達每秒500,000像素的xy掃描速度,全幀速率為每秒3,000幀。這使得它成為快速、高分辨率數據收集的理想儀器。JSM 6510有一個先進的軟件包，可以讓你控制電子光學和分析數據。軟件還有一個圖像處理系統，它允許你調整圖像的對比度和亮度，以及一個對齊系統，以確保準確的圖片放置。最後,JEOL JSM 6510具有堅固的真空室,可進行廣泛的分析,並確保樣品的安全環境。真空為氮氣凈化，腔室配有冷捕和差分泵送系統，使樣品系數保持電子穩定。無論需要強大的掃描電子顯微鏡進行研發、過程控制，還是質量保證，JSM 6510都是這項工作的完美儀器。憑借其高分辨率、堅固耐用的真空室和先進的軟件包,它將為您提供快速準確地完成工作所需的性能。