二手 JEOL JSM 6510LA #293607337 待售

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製造商
JEOL
模型
JSM 6510LA
ID: 293607337
優質的: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM) 2010 vintage.
JEOL JSM 6510LA是一種掃描電子顯微鏡,能夠提供高分辨率的成像和分析。這類設備廣泛應用於材料科學、金相、電子學等領域,為樣品提供表面和地下信息。JSM 6510LA具有廣泛的功能,使其能夠生成各種材料的精確和詳細的圖像。這包括一個肖特基電子源,它能夠產生非常小的電子光斑大小,從而產生高分辨率的圖像。此外,SEM還配備了鏡頭內二次電子探測器,能夠觀察樣品的三維表面形態,並直接顯示在監視器上。JEOL JSM 6510LA配備了一系列自動化功能,無需大量用戶輸入即可輕松操作和執行分析。這些功能包括自動圖像縫合系統、自動樣品對準系統、自動反向散射電子探測器和自動圖像縮放系統。這些功能使用戶能夠快速準確地分析圖像,而無需手動輸入坐標或監視樣本方向。除了自動化功能外,JSM 6510LA還配備了一系列手動控制,使用戶能夠調整電子束槍的設置。這包括加速度電壓、光斑大小、亮度和散光等的設置。手動控制使用戶能夠精確控制電子束的參數,以生成根據其特定要求量身定制的圖像。JEOL JSM 6510LA配備了多種分析能力,包括基於SEM的X射線色散光譜(XEDS)、電子反向散射衍射(EBSD)和能量色散X射線分析(EDAX)。這些分析技術使用戶能夠深入了解特定樣品的結構和化學組成,從而能夠作出更明智的決定。JSM 6510LA是一種可靠和強大的掃描電子顯微鏡,能夠產生各種材料的詳細和準確的圖像。此SEM由自動化功能和手動控制組合而成,有助於準確分析樣品的表面和地下特征,使其成為許多科學和工業應用中的寶貴工具。
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