二手 JEOL JSM 6510LV #293629371 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6510LV
ID: 293629371
優質的: 2014
Scanning Electron Microscope (SEM) Back Scatted Electron Detector (BSED) AMETEK / EDAX Octane Pro EDS Operation keyboard 2-Axis motor controlled stage 2014 vintage.
JEOL JSM 6510LV是一種可變壓力掃描電子顯微鏡(VP-SEM),提供高分辨率、高景深的優越樣品成像。該儀器的物鏡設計用於具有廣泛的電子能量,以不同的放大倍數成像。這樣就可以在各種深度和分辨率下拍攝圖像。JSM 6510LV配備了20 kV至200 kV超高能電子槍,廣泛的列內濾波器和槍支控制選項,以及獨一無二的立柱傾斜和旋轉組合,允許精確的樣品對準和最大的成像質量。集成環境掃描電子探測器(ESED)結合最高靈敏度操作條件提供卓越性能。這使用戶能夠達到粒子分辨率和靈敏度的最佳組合。JEOL JSM 6510LV還提供多種成像模式,包括二次電子成像、暗場成像和能量過濾反向散射成像。這允許用戶以不同的角度和深度對表面進行成像,而無需進行樣品制備或塗層。JSM 6510LV具有一系列令人印象深刻的特點,包括樣品和部分真空級、具有不同泵送能力的樣品室以及能夠對直徑達54毫米的樣品進行成像。此外,儀器還有一個可選的自動對焦系統,允許精確的對焦控制和樣品成像。JEOL JSM 6510LV提供了一系列高級控制功能,例如自動工具、具有可調參數的粒子濾波器和地圖濾波器。該儀器還為用戶提供了一系列成像軟件工具的訪問權限,包括高級粒子分析、圖像比較和報告生成。JSM 6510LV是廣泛應用的理想儀器,包括納米材料成像、半導體制造、生物技術研究和取證。它提供卓越的圖像、通用的映像功能,並且易於使用和維護。所有這些特點使得JEOL JSM 6510LV一個優越的掃描電子顯微鏡。
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