二手 JEOL JSM 6510LV #293630488 待售

JEOL JSM 6510LV掃描電子顯微鏡（SEM）是一種專門的顯微鏡儀器，用於成像和分析亞微米尺度的物體。這種儀器可以放大標本，達到實際尺寸的500000倍，非常適合揭示錯綜復雜的結構，並對非常小的物體進行測量。顯微鏡還具有檢測和顯示電位變化的能力，允許以非常高的分辨率進行材料分析。JSM 6510LV有一個為可變壓力和低真空模式設計的電子柱，其真空能級由真空計測量。電子束優化為五種不同的電壓設置。JEOL SEM使用高分辨率數碼相機以數碼格式捕捉和保存圖像。高分辨率顯示器和觸摸屏控制臺允許用戶與儀器進行交互，微調操作設置，快速訪問存儲的圖像。制造商設計了JEOL JSM 6510LV，用於低真空和高真空兩種操作模式。這意味著可以對環境和生物樣品進行分析，而不必擔心大氣氣體的汙染。顯微鏡還有一個EDX探測器，可以對樣品進行元素分析。該儀器能夠應用包括反向散射電子、發射電子和二次電子在內的一系列探測器，可以用來揭示不同的結構細節，並提供各種分析信息。JEOL Scanning Electron Microscope憑借其柱內自動對焦系統和高性能穩定器，提供出色的圖像分辨率，提供非常細致清晰的圖像。此外，先進的成像技術如SEMEBSD分析、SEET分析和SED測量可用於幫助研究人員從他們的實驗中獲得最有用的結果。JEOL SEM還具有計算機控制的標本和舞臺系統,可自動查看和分析標本。總體而言，JSM 6510LV掃描電子顯微鏡是一種用途極為廣泛的儀器，能夠揭示到納米級的結構細節。它提供潛在信息的能力及其分析技術使其成為許多研究應用的寶貴工具。此外，其用戶友好的界面，高分辨率的成像和穩定的操作允許輕松和精確的操作。