二手 JEOL JSM 6510LV #293661215 待售
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已售出
ID: 293661215
優質的: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolutions:
3.0 nm at 30 kV
8 nm at 3 kV
15 nm at 1kV
LV Mode: 4.0 nm at 30 kV
LV Pressure: 10 to 270 Pa
Magnification: 5x to 300,000x
Image mode: REF Image, Composition, Topography, Shadowed, Secondary electron image
Accelerating voltage: 0.5 kV-30 kV
Pre-centered filament
Electron gun: Fully automated, Manual override
Zoom condenser lens
Conical objective lens
Electrical image shift: 50 µm at 10mm
Ethernet
Pumping system
Auto functions:
Focus
Brightness
Contrast
Stigmator
Specimen stage:
X: 80 mm
Y: 40 mm
Z: 5 mm to 48 mm
Tilt: −10° to 90°
Rotation: 360°
Operating system: Windows 7
PC: IBM PC/AT
2010 vintage.
JEOL JSM 6510LV是掃描電子顯微鏡（SEM）的一種。SEM采用最新技術,提供卓越的性能、更好的易用性和更廣泛的功能。該設備旨在為用戶提供觀測標本納米級特征所必需的納米成像功能。該顯微鏡具有可變壓力工作室，允許在低真空（低至0.3 Pa）或大氣條件下觀測，並提供樣品制備自由。其新采用的肖特基場發射電子源和氣場發射槍使高分辨率成像具有最小的樣品制備能力。JSM 6510LV還包括一個能量色散X射線探測器，允許用戶測量半導體結構和其他微小的組件。光譜儀還能夠對樣品中的每種元素進行定性和定量評估。顯微鏡的人性化設計允許廣泛的應用。直接輸入窗口允許用戶輸入圖像采集過程的參數，而一鍵式按鈕則提供了簡單而高效的工作流程。顯微鏡還設有計算機控制系統，允許用戶在無需手動輸入的情況下設置各種參數。JEOL JSM 6510LV配備了先進的數碼相機系統。圖像可以存儲為16位灰度或彩色JPEG文件。此顯微鏡還可用於使用USB或以太網電纜進行自動圖像傳輸。為了提高顯微鏡性能,JSM 6510LV配備了具有可調圖像對比度的Alpha射線探測器、具有電動X-Y-Z級的分級振動補償系統,以及用於精確樣品成像的電動聚焦機構。這種高度先進的顯微鏡是研究人員尋求先進SEM的理想選擇。它的最新技術和特點使其成為廣泛應用的理想選擇，包括但不限於納米級成像、半導體結構、微元素分析和其他研究領域。
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