二手 JEOL JSM 6510LV #293671225 待售

JEOL JSM 6510LV是世界一流的掃描電子顯微鏡（SEM），支持強大的成像和分析能力。它使用能量色散光譜（EDS）設備提供卓越的成像和微分析測量性能。該系統提供高真空和低真空兩種模式的高分辨率圖像。顯微鏡裝有超高真空室，可達到5 × 10-6 Torr以上的水平。這種真空水平大大提高了使用高真空模式時的對比度分辨率和圖像細節。低真空模式使用環保中性氣體來減少束流。EDS單元由一個可延伸至8mm的搭接式搜索線圈組成。它具有超高分辨率測量功能,單個像素的絕對值降至0.02%。JSM 6510LV具有先進的可變壓力成像機。此功能允許自動調整掃描壓力,以達到5.10-3 Torr的最佳成像效果。顯微鏡還利用高分辨率反向散射檢測器（BSD）來精確測量具有高Z對比度的樣品。BSD利用四元氧化硼濾波器，通過降低噪聲水平產生高質量的圖像。此外，PAIS（圖樣分析和成像工具）通過應用分類模式提供最先進的成像和微觀分析。JEOL JSM 6510LV也是為了盡量降低維護成本而設計的。它具有節省材料的O形環資產,可防止汙染並減少頻繁清洗的需要。綜合環境控制模型（ECS）確保了顯微鏡在最佳條件下運行，以達到最佳性能。計算機控制的冷卻設備保持噪音水平，允許低水平的振動和溫度控制。最後,內置的數據庫服務器有助於管理顯微鏡的設置和參數,以便於訪問。總體而言，JSM 6510LV是一種先進的SEM，在高真空和低真空兩種模式下都能產生優異的效果。它非常適合需要清晰詳細圖像以及高分辨率微分析測量的研究人員。此外,易於維護的設計有助於降低成本,同時確保最佳性能。