二手 JEOL JSM 6600 #177690 待售
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ID: 177690
Scanning Electron Microscope (SEM), 6"
Electromagnetic
Double-deflection
Lens system:
Condenser lens
Objective lens
Specimen movement range:
X-Direction: 160 mm
Y-Direction: 160 mm
Z-Direction: 31 mm
Tilt: 0° - 600°
Rotation (ESR Unit): 360° Endless
Objective apertures: 50, 70, 110, 170 µm In diameter
EDX Option
Magnification: 10x - 300,000x
Secondary electron image resolution (At 8 mm working distance):
35 kV 3.5 nm
1 kV 20.0 nm (Attainable)
Accelerating voltage:
0.2 to 40 kV (0.2 to 5 kV Variable in 0.1 kV steps, 5 to 40 kV variable in 1 kV steps)
Power: 200 VAC, Single phase, 30 A, 50/60 Hz, 6 kVA
1990 vintage.
JEOL JSM 6600掃描電子顯微鏡（SEM）是一種功能強大、用途廣泛的儀器，可用於多種材料和應用。這臺顯微鏡配備了能量色散X射線分析儀和在成像、化學分析等應用方面提供卓越性能的電子槍。該系統采用最新一代的場發射陰極，可以快速準確地掃描樣品。此技術可確保卓越的圖像分辨率,同時仍允許高達30,000倍的高放大倍率。該儀器還配備了一個具有大景深和高靈敏度的探測器，用於檢測樣品中存在的各種元素。SEM配備了一個電動掃描階段和一個軟件包，供操作員為給定樣本定制設置。這包括階段速度的設置、順序掃描的時間控制、放大設置以及電子束電流和加速電壓的調整。JEOL JSM-6600還配備了自動反向散射電子探測器，用於非導電材料的圖像。該儀器利用計算機驅動的掃描算法跟蹤樣品中元素分布的精細細節。此外,JSM 6600還具有環形暗場成像、陰極發光成像和粒子探測器等先進功能,可檢測樣品中的顆粒。這種儀器還可以用來制作樣品的三維圖像。該系統還可以與其他工具結合使用，以實現更全面的分析。這包括使用掃描透射電子顯微鏡、電子能量損失光譜、能量色散X射線光譜和低能電子衍射。JSM-6600是一種通用的掃描電子顯微鏡，能夠提供卓越的圖像分辨率以及樣品的化學分析。這種高性能儀器是先進材料分析應用的絕佳選擇。
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