二手 JEOL JSM 6600 #293824665 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6600
ID: 293824665
Scanning Electron Microscope (SEM) IdFix Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy (EDX) system X-Ray detector Convent image processing system Lens system: Condenser lens Objective lens Operating mode: SEM1 ECP EMP PSCN Specimen movement range: Direction (X, Y, Z): X: 160 mm Y: 160 mm Z: 31 mm Tilt: 0° to 60° Rotation: 360° Scan mode: Pic RD2 RD4 RDC LSP BUP SPT Power supply: 240 / 220 / 200 / 180 V, 50 / 60 Hz single phase, 6 kW.
JEOL JSM 6600是一種掃描電子顯微鏡(SEM),專門設計用於從微觀結構觀測到高級分析能力的應用,提供卓越的性能、卓越的易用性和卓越的靈活性。JEOL JSM-6600配備冷場發射槍(FEG),提供低背景噪聲的高分辨率圖像。這樣可以對具有卓越圖像對比度和圖像質量的材料進行詳細分析。JSM 6600還具有高速數字信號處理器(DSP),用於數據采集和圖像處理,從而實現更快的圖像采集和圖像處理。JSM-6600還有一個卓越的成像系統和可選的集成電荷耦合器件成像在二次和反向散射電子模式。這為高清圖像提供了廣泛的放大功能。成像系統還包括各種對比度增強技術,可提供卓越的對比度和圖像清晰度。JEOL JSM 6600具有一系列分析能力,包括用於元素和化學分析的能量色散X射線光譜和波長色散X射線光譜。這些能力允許對材料進行預先元素和化學分析及制圖。JEOL JSM-6600還可以配備多種-sample架,包括標準標本架、冷凍架和液氮,為各種應用提供了一系列的標本操縱技術。JSM 6600是一種技術先進、可靠、用途廣泛的材料分析和微觀結構觀測工具。此SEM提供卓越的性能、易用性和靈活性,使其成為各種行業應用程序的理想選擇。
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