二手 JEOL JSM 6600 #9122948 待售

JEOL JSM 6600，一種掃描電子顯微鏡（SEM），是一種先進的分析設備，用於研究許多不同類型材料的納米和微觀結構。它是一種非常成功和可靠的儀器，使研究人員能夠可視化和分析通常太小而肉眼無法觀察的結構，並識別和測量其產生的信號提供的各種物理特性。JEOL JSM-6600是一種超高分辨率SEM,利用能量色散X射線探測器（EDX）提供成分信息和單色系統來提供樣品化學對比和地形信息。SEM的高度精密的設計也確保了它提供了10nA到0.15nA的高靈敏度，提供了對最小粒子的出色檢測。SEM的能力因130mm至200 mm的大工作距離而進一步提升，使使用者能觀察到大型樣本，例如晶圓和笨重的元件，以及直徑達400mm的標本級。這種SEM的分辨率也是例外，放大倍率高達350000X，使用戶能夠在樣品中觀察到極其精細的細節，並有二次電子探測器確保高度詳細的圖像。它還具有1到30kV的寬加速電壓範圍，使各種材料和實驗得以進行。JSM 6600還包含各種有助於防止設備和操作員損壞的安全功能,例如安全門互鎖開關和離子保護柵格系統,可減少分子在樣品上的充電和縮合。SEM的軟件對用戶友好,可以通過USB端口輕松傳輸數據。總之，JSM-6600是一種極精確的儀器，提供高度詳細的表面結構圖像，使其成為材料科學、微電子學、生物醫學研究等領域納米級研究的理想選擇。高放大倍率、高分辨率、高電源、安全特性，確保儀器滿足眾多研究人員的需求，提供準確可靠的結果和數據。