二手 JEOL JSM 6600 #9136256 待售
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ID: 9136256
Scanning electron microscope (SEM)
Digital camera
Wafer load lock
Denka lab6 cathodes with 10 to 15 spares
NORAN EDS
Spare parts:
(1) Extender: MP001569-01
(1) Extender: AP002139(00)
(1) Vacuum controller: AP001129-01
(1) MAG PWRAMP: 152048-1/1
(1) PS RGLTR CCT 1 SM151003
(1) CRT PAT: 1520048-1/1
(1) PA RGLTR CCT 2 1520048-1/1
(1) Specimen current amplifier type 103B
(1) PCSM-PCD40D: EP380131
(1) EVTH DETECTOR PMT
(14) Wehnelt assemblies: 804302090
(6) Wehnelt assemblies with LaB6 804302090
(3) Wehnelt assemblies withLaB6 804302090
(2) Wehnelt assemblies with LaB6 804302090
(1) Wehnelt assembly with LaB6 804302090
(2) Anodes
(5) Tools
(1) Silicon wafer holder 8 1/4" W/5 50MM
(1) Silicon wafer holder 6 1/4" W/5 40MM
(2) Silicon wafer holder 5 1/4" W/5 25MM
Includes manual.
JEOL JSM 6600是一種先進的掃描電子顯微鏡，設計用於研究環境中的操作。這種裝置的使用使研究者能夠觀察和分析各種樣品的結構，從生物到材料為基礎的標本。JEOL JSM-6600在0.1至30 kV的加速電壓下運行，並在真空的超高真空模式下運行至4.5 x 10-7 Pa，使其能夠同時使用幹樣和濕樣。這臺顯微鏡配備了多種先進的電子光學器件，包括場發射槍和極片掃描鏡頭。這意味著可以精確引導光束以獲取圖像並從樣本中收集數據。JSM 6600的高性能也允許對標本進行更精確的分析。例如，可以使用能量色散X射線光譜（EDS）進行元素微分析，允許測量材料的表面成分。進一步到元素分析，可以使用全色檢測器和可見圖像檢測器（VID）為研究者提供彩色的樣本圖像。JSM-6600配備了觸摸屏用戶界面，比以往任何時候都更容易調整顯微鏡的設置，探索其強大的功能。此外，由於顯微鏡可以同時處理多個樣品，自動化程序使用戶能夠節省時間。總體而言，JEOL JSM 6600的多功能性和先進能力使其成為市場上最受歡迎的掃描電子顯微鏡之一。它能夠提供高質量的圖像和準確的測量樣品的組成，從而產生優越的研究成果。
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