二手 JEOL JSM 6600F #293600174 待售
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JEOL JSM 6600F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於多種實驗室應用，如材料分析、生物標本觀測、失效分析等。它利用二次電子、反向散射電子、電子束感應電流（EBIC）和X射線能量或粒子探測器生成成像和分析數據。JEOL JSM-6600F采用高度精密的立柱設計,為立柱真空設備提供更大的靈活性和更長的工作距離。該系統分別泵送二次電子探測器和反向散射電子探測器，從而使粒子探測器離樣品更遠，工作距離更長，從而可以在更高分辨率下實現更高的放大成像。特殊配置文件補償單元可提供更清晰的圖像信號,以提高清晰度。JSM 6600F還具有對生物標本中超低濃度進行敏感定量分析的低背景計數階段。此外，該SEM還裝有具有LaB6燈絲的高性能低壓電子束生成槍。這樣可以在低電壓下實現極高分辨率的成像和分析數據采集。就分析能力而言，JSM-6600F與五個固態探測器兼容，實現了廣泛的應用，如EDS（能量色散光譜）、WDS（波長色散光譜）、EDX（能量色散X射線）、SEI（二次電子成像）。這些技術能夠提供關於元素、化合物和材料微觀結構的定性和定量信息。分析機還可以升級為包括元素映射、相位分析、角度解析光譜分析、熒光X射線光譜、反向散射電子成像。最後，JEOL JSM 6600F是專門為適應廣泛的配件而設計的，可以進一步擴展其能力。其中包括用於晶片成像的自動化級、用於冷凍和濕度控制的特殊環境室、允許低kV和近束電流成像的氦離子槍以及用於獨特樣品形式的各種級適配器。總體而言,JEOL JSM-6600F是一款創新的SEM,具有強大的映像功能,非常適合許多不同的應用程序。它具有高分辨率、低背景計數階段以及針對各種樣本類型的一系列分析技術。此外,還可以對其進行升級和輔助,以便為自定義應用程序提供其他功能和功能。
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