二手 JEOL JSM 6600F #9395491 待售
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ID: 9395491
Scanning Electron Microscope (SEM)
Controller
Power
SEIKO SEIKI STP Control unit
KYKY SCB-12 Coating machine.
JEOL JSM 6600F是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM）,它利用一種創新的混合設備,既包含熱場發射（TFE）又包含高亮度場發射（HBF）源。這種混合源技術提供了一個多功能平臺，非常適合研究和工業環境中的各種應用，包括材料科學、納米技術、半導體加工和生物成像。該儀器采用了強大的高速槍鏡頭，提供了一個可靠的視野精確成像和出色的分辨率。其SE2（二次電子）檢測系統提供了準確的地形信息分析，以及標本表面特性的高對比度圖像。此外，JEOL JSM-6600F還可以配備許多額外的分析能力，包括能量色散X射線光譜（EDS）來檢測具有高原子序數的元素，以及電子反向散射衍射（EBSD）用於定量晶體學測量。JSM 6600F的高級采樣級允許對垂直和橫向運動進行精確的手動和自動控制,最大采樣級速度為5mm/秒。舞臺的超大取樣面積可容納直徑達6英寸的標本，為標本處理提供靈活性。此外,高度敏感的操縱桿控制允許精確定位樣品,創建具有最佳對比度和最佳分辨率的精確圖像。JSM-6600F還提供了廣泛的其他功能，以滿足研究人員和工程師的需求。具有雙重排空能力的真空室有助於減少樣品的波束漂移和充電。可選的自動對焦單元使樣品調整和對齊更加容易和準確。該儀器還包括用於裝卸樣品的氣鎖機、用於遠程觀看的攝像機和易於使用的圖形控制工具。最後，JEOL JSM 6600F的卓越性能得到了可靠構造和高性能規格的支持。儀器內部保持的溫度控制環境減少了熱膨脹變化，為成像提供了穩定的平臺。資產的快速初始化進一步加快了啟動時間。離子束限制器進一步有助於降低因過度暴露而造成樣品損壞的風險。
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